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| Acreditação Nº |
687 |
| Data da Acreditação |
31/01/2019 |
| ACREDITAÇÃO VIGENTE |
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| Última Revisão do Escopo |
13/05/2024 |
| Razão Social |
3D Metrologia Ltda. |
| Nome do Laboratório |
3D Metrologia Ltda. |
| Situação |
Ativo |
| Endereço |
Rua Jacob Jaeger, 187 |
| Bairro |
Cristo Rei |
| CEP |
93020510 |
| Cidade |
São Leopoldo |
| UF |
RS |
| Telefone |
(51) 3592.9810 |
| Fax |
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ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados nas instalações permanentes) |
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
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| Medidor de Altura | 0 mm até 600 mm | 0,0019 mm até 0,0030 mm | | > 600 mm até 1000 mm | 0,0023 mm até 0,0038 mm | | Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado ou com máquina de medição por coordenadas | | | Micrômetro de Profundidade | 0 mm até 300 mm | 0,0025 mm | | Método de comparação com máquina de medição por coordenadas | | | Micrômetro Externo | 0 mm até 100 mm | 0,001 mm | | > 100 mm até 1500 mm | 0,0034 mm até 0,0041 mm | | Paralelismo | 0,00059 mm | | Planeza | 0,00038 mm | | Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas. | | | Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão | | | Paquímetro | 0 mm até 300 mm | 0,01 mm | | > 300 nm até 1500 mm | 0,010 nm até 0,014 mm | | Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso ou máquina de medição por coordenadas | | | Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável) | | | Relógio Apalpador | 0 mm até 2 mm | 0,001 mm | | Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios | | | Relógio Comparador | 0 mm até 100 mm | 0,001 mm | | Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios | |
MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
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| Máquina de Medição de Forma | Sensibilidade do Apalpador | 0,50 µm | | Circularidade | 0,05 µm | | Cilindricidade até 440 mm | 0,61 µm
0,41 µm | | Retitude vertical até 440 mm | 0,29 µm | | Retitude horizontal até 54 mm | 0,14 µm | | Paralelismo até 440 mm | 0,46 µm | | Planeza até 54 mm | 0,08 µm | | Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico | | | Maquina de Medição de Perfil | Eixo X até 83 mm | 0,002 mm | | Eixo Z até 40 mm | [0,00015 +L/76900] mm, onde L em mm | | Raio até 10 mm | 0,0013 mm | | Angular até 91° | 0,011° | | Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão | | | Máquina de Medição Linear | 0 mm até 20000 mm | [0,00011 +L/1080000] mm, onde L em mm | | Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico | | | Máquina de Medição por Coordenadas | Até 20000 mm | [0,2 + L/1150] µm, onde L distância em mm | | Perpendicularidade | 0,0019 mm | | Planeza | 0,0013 mm | | Distância | 0,0013 mm | | Circularidade | 0,0013 mm | | Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência | | | Projetor de Perfil | 0 mm até 300 mm | 0,002 mm | | até 360º | 01´ 12" | | Método de comparação com régua graduada e padrão angular | | | Sistema de Medição Óptico Tridimensional | Medição óptica até 300mm | [0,002 + L/300000] mm, onde L em mm
| | Apalpação por imagem até 50 mm | 0,001 mm | | Medição por foco até 100 mm | 0,001 mm | | Perpendicularidade até 360º | 0,003 mm/01´12´ | | Método de comparação com régua graduada, padrão angular e bloco padrão | |
MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
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| Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas | Paralelismo até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0014 mm | | Concentricidade até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Coaxialidade até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Simetria até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Posição de um elemento até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Batimento Radial até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Batimento Axial até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Perfil de linha até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Perfil de superfície até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Inclinação até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Retitude até (900 x 1600 x 800) mm | 0,00042 mm | | Planeza até (900 x 1600 x 800) mm | 0,00009 mm | | Circularidade até (900 x 1600 x 800) mm | 0,00010 mm | | Cilindricidade até (900 x 1600 x 800) mm | 0,00079 mm | | Perpendicularidade até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Inclinação até (900 x 1600 x 800) mm | 0,0033 mm | | Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência. | | | Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes | 0 até 500 mm | 0,0008 mm até 0,0029 mm | | > 500 mm até 1600 mm | 0,0041 mm até 0,0090 mm | | Ângulo até 360º | 2´ | | Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência | |
PADRÕES DE COMPRIMENTO
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| Calibrador Anel Liso Cilíndrico | 4 mm até 200 mm | 0,0012 mm até 0,0021 mm | | Cilindricidade | 0,0033 mm | | Circularidade | 0,0042 mm | | Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico utilizando máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas | | | Esfera Padrão | 0 mm até 100 mm | 0,0008 mm até 0,0009mm | | Método de comparação com máquina de medição linear | |
PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
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| Desempeno | 0 mm até 1700 mm | 1,8 µm | | Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza | |
(Realizados nas instalações do cliente) |
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
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| Medidor de Altura | 0 mm até 1000 mm | 0,0019 mm até 0,0042 mm | | Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado | | | Micrômetro Externo | 0 mm até 100 mm | 0,001 mm | | Paralelismo | 0,00059 mm | | Planeza | 0,00038 mm | | Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas
Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão | | | Paquímetro | até 300 mm | 0,01 mm | | Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso | | | Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável) | | | Relógio Apalpador | 0 mm até 2 mm | 0,001 mm | | Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios | | | Relógio Comparador | 0 mm até 25 mm | 0,001 mm | | Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios | |
MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
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| Máquina de Medição de Forma | Sensibilidade do Apalpador | 0,25 µm | | Circularidade | 0,03 µm | | Cilindricidade até 440 mm | 0,41 µm | | Retitude vertical até 440 mm | 0,27 µm | | Retitude horizontal até 54 mm | 0,14 µm | | Paralelismo até 440 mm | 0,87 µm | | Planeza até 54 mm | 0,05 µm | | Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico | | | Maquina de Medição de Perfil | Eixo X até 83 mm | 0,0007 mm até 0,0012 mm | | Eixo Z até 40 mm | 0,0002 mm até 0,0007 mm | | Angular até 91° | 0,0067 ° | | Raio até 10 mm | 0,0006 mm | | Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão | | | Máquina de Medição Linear | 0 mm até 100 mm | 0,00028 mm até 0,00029 mm | | > 100 mm até 1000 mm | 0,0003 mm até 0,001 mm | | > 1000mm até 20000 mm | 0,001 mm até 0,019 mm | | Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico | | | Máquina de Medição por Coordenadas | 0 mm até 600 mm | 0,7 µm até 1,0 µm | | > 600 mm até 20000 mm | 1,0 µm até 34 µm | | Circularidade | 0,0049 mm | | Distância | 0,0013 mm | | Perpendicularidade | 0,0010 mm | | Planeza | 0,0013 mm | | Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência | | | Projetor de Perfil | 0 mm até 300 mm | 0,002 mm | | 0º até 360º | 01´ 12" | | Método de comparação com régua graduada e padrão angular | | | Sistema de Medição Óptico Tridimensional | Medição óptica 0 mm até 300 mm | 0,001 mm até 0,002 mm | | Apalpação por imagem até 50 mm | 0,001 mm | | Medição por foco até 100 mm | 0,001 mm | | Perpendicularidade até 360º | 0,003 mm/01´12´ | | Método de comparação com régua graduada, padrão angular, bloco padrão e anel padrão | |
PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
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| Desempeno | 0 mm até 1700 mm | 2,3 µm até 2,8 µm | | Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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